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型號:WDX 4000

順序式波長色散X熒光光譜儀

描述:WDX-4000 是江蘇天瑞儀器股份有限公司,在國家重大科學儀器設備開發專項(項目編號:2011YQ170065)資金支持下,融合科技創新和發明,推出的*臺商業化順序式波長色散X熒光光譜儀。WDX-4000通過了《JJG 810-1993波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程》的測試,能檢測元素周期表上從Be-4到U-92的元素,可應用于地質、水泥、鋼鐵和環保等領域.

  • 廠商性質

    經銷商
  • 更新時間

    2024-04-26
  • 訪問量

    1095
詳細介紹
品牌SKYRAY/天瑞儀器行業專用類型通用
元素分析范圍Na-U價格區間50萬-100萬
儀器種類臺式/落地式應用領域環保,石油,地礦,能源,冶金

順序式波長色散X熒光光譜儀產品說明、技術參數及配置

WDX-4000 是江蘇天瑞儀器股份有限公司,在國家重大科學儀器設備開發專項(項目編號:2011YQ170065)資金支持下,融合科技創新和發明,推出的*臺商業化順序式波長色散X射線熒光光譜儀。WDX-4000通過了《JJG 810-1993波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程》的測試,能檢測元素周期表上從Be-4到U-92的元素,可應用于地質、水泥、鋼鐵和環保等領域。WDX-4000采用大量通用化的設計,可以提供給客戶經濟便捷的維護。

性能特點:

創新的測角儀設計
保護的創新型鋼帶傳動系統,可以提供穩定、無回程間隙的旋轉運動,以保證高精度的角度定位要求;
θ/2θ兩軸獨立運動,并配合伺服電機和圓光柵構成閉環系統;
永磁式交流伺服電機提供業界的高速平滑運動;
圓光柵測角重復性可達±0.0002度,精度達±0.0006度,足以保證優異的角度測量性能;

數字多道分析儀
12位,80M/s的模數轉換采樣率,是業界高分辨率的信號采樣系統,保證了信號采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的數字信號處理算法,4096道分析系統足以從噪聲中篩選正確的X射線信號
大動態范圍測量,有效減少了探測器增益調節次數

X射線光管和高壓
標準的4kW大功率電源系統,支持高靈敏度的痕量檢測以及更快的檢驗速度
50um/75um的鈹窗厚度保證高的X射線穿透率,尤其適合低能X射線穿過
高壓電源電壓和電流高可達60kV和160mA,用戶可根據實際需要靈活設置電壓和電流參數
雙通道水冷系統,電導率保持在1uS以下,以大限度延長光管工作壽命其他
多可支持10塊晶體,可根據客戶需求提供專門優化的人工多層膜晶體,以提升輕元素的檢測能力
薄可達0.3um的正比流氣計數器窗膜,極大提升了輕元素的光通量

其他:
光譜室溫度控制穩定性在±0.05C以內
晶體、準直器和濾光片都采用自動切換控制
軟件
完整而豐富的軟件功能
32位軟件系統,優異的可操作性和人機交互界面
成熟的經驗系數法配合標準樣品提供準確可靠的檢測數據
基本參數法可提供多樣化的分析手段,可進行無標樣的半定量和定量分析
集成的SQLite數據庫用于保存實驗數據,方便數據查詢和管理

順序式波長色散X射線熒光光譜儀技術指標

進樣系統
樣品形式:固體
樣品尺寸:大51.5 mm  × 40 mm
樣品重量:重500g
進樣系統:雙進樣系統,標備除塵過濾器和預抽真空系統;一個樣品測量的同時給另一個樣品預抽真空,互不干擾
自動進樣機:自動機械手進樣系統,多可裝168個樣品
自旋裝置:3種自旋速度(低、中、高)
X射線光管
鈹窗:50um/75um超薄鈹窗,用以保證X射線的高通過率
陽極靶材料:標配銠靶,可選銅靶、鉬靶、鎢靶,鉻靶,鉑靶等
工作模式:樣品進樣時保持工作狀態不變
水冷系統:雙路水循環系統,電導率保持在1uS以下
高壓電源
輸出方式:1kV和1mA的標準調節單位,通過12位DA進行精細調節
長時間穩定性:0.01%/8 hours
溫度穩定性:50 ppm/C
(20 ppm/C可選).
數據
功率:4kW
KV/mA范圍:電壓20-60KV,電流10-140mA;大電壓75kV,電流160mA可選.
測角儀
工作模式:創新型鋼帶傳動系統,無摩擦,無回程間隙,帶有圓光柵反饋,θ/2θ兩軸獨立運動
大轉角速度:6000  2θ/min
測角精度:0.0006° θ / 2θ
測角重復性:0.0002° θ / 2θ
步進角度:小 0.0001°,大1°
角度掃描范圍:流氣比例計數器:12° to 150°@2θ
閃爍計數器: 0° to 120°@2θ
光路
準直器面罩:單面罩,(其他尺寸27, 32 or 50mm可選)
主準直器:多可裝3個: 100, 150, 300, 550, 700 or 4000 um, 可選
主濾光片:多4片: Pb,Al,Cu等元素可選
晶體:多10個: LiF420,LiF220,LiF200,Ge111,PE002,InSb, TIAP,以及用于輕元素測量的各種人工多層膜晶體.
探測器:流氣比例計數器 (FPC), 可配0.3um厚的窗膜
閃爍計數器 (SC)
光室真空度:<15Pa
信號處理
數字多道分析儀:12位,80M/s采樣速度,4096道分析能力,采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信號和噪聲分離
大計數率:流氣比例計數器:3Mcps
閃爍計數器: 1.5Mcps
脈沖漂移和增益校正:自動
時間校正:自動


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