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型號:

X熒光鍍層膜厚儀Thick8000

描述:X熒光鍍層膜厚儀Thick8000主要應用于金屬鍍層膜厚的檢測,鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍銀等,Thick8000是目前公司達的一款,有著*三維移動平臺,清晰的樣品觀測系統,國內品牌。

  • 廠商性質

    經銷商
  • 更新時間

    2024-04-27
  • 訪問量

    743
詳細介紹
品牌其他品牌價格區間面議
產地類別國產應用領域醫療衛生,化工,生物產業,電子,印刷包裝

儀器介紹
喬邦金屬鍍層膜厚儀是喬邦集多年的經驗,專門研發用于鍍層行業的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發的軟件,在鍍層行業中可謂大展身手。

Thick800A.jpg

喬邦X射線膜厚儀性能指標


精密的三維移動平臺
全自動智能控制方式,一鍵式操作
同時檢測元素:多24種,多達5層鍍層
鍍層厚度:50μm以內(每種材料有所不同)


硬件

 

全景和局部兩個工業高清攝像頭

高低壓電源

主機壹臺,含下列主要部件: 

微焦斑X光管                 

大面積SDD電制冷半導體探測器

數字多道分析器

超高精度三維移動平臺

開放式樣品腔及鉛玻璃屏蔽罩

電動調節準直器

防撞激光保護器

激光定位裝置及圖像自動對焦技術

 

軟件及其他

 

X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件

計算機、打印機各一臺

儀器使用說明書

標準附件

準直孔:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四種(已內置于儀器中)

 

技術指標

 

*微孔準直技術:小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭

分析元素范圍:硫(S)~鈾(U

同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層

分析含量:一般為2ppm99.9%

鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)

SDD探測器:分辨率低至135eV

準直器:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四種準直器組合

儀器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

樣品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

樣品臺尺寸:393Wx 258 Dmm

X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度:小于0.1um

操作環境濕度:≤90%

操作環境溫度:15℃30℃


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