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型號:

浙江X射線鍍層測厚儀

描述:浙江X射線鍍層測厚儀,Thick 800射線鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。專業熒光測厚儀,產品主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

  • 廠商性質

    經銷商
  • 更新時間

    2024-04-27
  • 訪問量

    833
詳細介紹
品牌其他品牌價格區間面議
產地類別國產應用領域醫療衛生,化工,生物產業,電子,印刷包裝

性能優勢

 

1.精密的三維移動平臺 

2.的樣品觀測系統 

3.*圖像識別 

4.輕松實現深槽樣品的檢測 

5.四種微孔聚焦準直器,自動切換 

6.雙重保護措施,實現無縫防撞 

7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度

 

全自動智能控制方式,一鍵式操作!

開機自動自檢、復位; 

開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣; 

關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦; 

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點; 

點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結果。

 

部分產品

 

五金電鍍層測厚儀,X熒光測厚儀,x光鍍層測厚儀,鍍金層無損X射線測厚儀,led支架鍍銀層測厚儀,國產鍍層測厚儀,X熒光鍍層測厚儀,國產X熒光鍍層測厚儀,x光鍍層測厚儀,X射線鍍層測厚儀價格,X光測厚儀,ROHS含鉛分析儀,鍍層測厚儀,X熒光金屬膜厚測厚儀,XRF鍍層測厚儀,x熒光金屬測厚儀,便攜式水質重金屬分析儀,無損金屬鍍層測厚儀,鍍金膜厚儀,PCB表面鍍層測厚儀,金屬鍍層分析儀,鍍銀厚度測試儀,膜厚測試儀,氣相色譜質譜聯用儀。

 

技術指標

 

分析元素范圍:硫(S)~鈾(U) 

同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層

分析含量:一般為2ppm到99.9% 

鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)

SDD探測器:分辨率低至135eV

*微孔準直技術:小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭 

準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合 

儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度:小于0.1um

操作環境濕度:≤90%

操作環境溫度:15℃~30℃


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