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+2020-07-28
+鍍層測厚儀x射線光譜分析儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型鍍層光譜分析儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
天津X射線鍍層測厚儀是經過多年的經驗,研發用于電鍍層行業的一款無損測試儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺,*達到了自動化,是一款功能強大的儀器,為客戶解決了測試難題,在行業中大展身手。