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半導體集成電路行業電鍍鍍金層測厚儀 高性價比上照式光譜測厚儀,對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。鍍層金屬膜厚儀XD系列
毛細管聚焦X熒光鍍層測厚儀 高性價比上照式光譜測厚儀,對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。鍍層金屬膜厚儀XD系列
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XD-1000高性價比型膜厚儀 高性價比上照式光譜測厚儀,對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。鍍層金屬膜厚儀XD系列