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XD-1000高性價(jià)比型膜厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測厚儀,對各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測試或自動逐個(gè)檢測大量的小部件。半導(dǎo)體、PCB及五金端子連接器水處理
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